![]()
電子制御システムTESTマイクロコンピュータと超LSIメモリーの発達・開発にはめざましい現在です。特に信頼性については、従来の電気部品とは比較にならないほどの優れた信頼度を得ております。
更に設計製作品は優れた信頼度を得るために温度テストが行われております。
-
200時間BURN-IN 80℃ TEST
-
-10℃・・・+25℃・・・85℃ 温度サイクル TEST
-
ソフトウェア バグ:耐ノイズ シーケンス システム TEST
いずれも製品の高信頼性を条件とした制御装置専業メーカーとして、
各ユーザーメーカー様の根強い信頼を得ておりますなお製品につきましては、すべて産業用として想定されていますので全数設計No/のデータを製品ここにコンピュータで管理し、常に信頼度の解析を行って出荷後の不良を出さないように設計生産されており、不良率は他社製品に比べて極めて低くなっています。
その高い性能とともにフレキシブルな対応が可能であり、しかもコンピュータの心臓部であるCPUは自己診断警報機構を持ち、制御装置事態にも各種異常警報装置表示モニターを装備した知的な最新ノウハウを集結しており、制御技術の信頼性と完璧なアフターサービスには高い評価をいただいております。



